簡(jiǎn)要描述:通過對(duì)有害物質(zhì)的簡(jiǎn)單快速的測(cè)量,您可以確保能夠滿足環(huán)境法規(guī)的要求。日立 EA1000AIII 大樣品艙 臺(tái)式XRF光譜儀
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日立 EA1000AIII 大樣品艙 臺(tái)式XRF光譜儀
通過對(duì)有害物質(zhì)的簡(jiǎn)單快速的測(cè)量,您可以確保能夠滿足環(huán)境法規(guī)的要求。
操作方便
自動(dòng)采樣
靈活校準(zhǔn)以適應(yīng)新的RoHS標(biāo)準(zhǔn)
自動(dòng)突出顯示您正在分析的內(nèi)容以獲得可瀏覽的結(jié)果
快速測(cè)量
大樣品艙滿足各種樣品
視聽測(cè)量指示器
添加鍍層和元素分析的選項(xiàng)
探測(cè)器:硅半導(dǎo)體檢測(cè)器(無需液氮)
塑料中Cd、Pb、Hg、Br、Cr的測(cè)量時(shí)間*:小于70秒
高濃度BrSb塑料中Cd、Pb、Hg、Cr的測(cè)量時(shí)間*:小于230秒
元素范圍:Al(13)至U(92)
樣品狀態(tài):固體/粉末/液體
測(cè)量面積:1 mmφ、3 mmφ、5 mmφ(電動(dòng)開關(guān))
樣品艙:寬370×深320×高120毫米
過濾器:5個(gè)位置
樣品觀察:CCD全彩攝像機(jī)
操作:臺(tái)式機(jī)的筆記本電腦
*注:總測(cè)量時(shí)間是指達(dá)到統(tǒng)計(jì)誤差(3西格瑪)所需的時(shí)間,Cd為20ppm,其他元素為100ppm(在日立推薦的條件下測(cè)量)。
日立 EA1000AIII 大樣品艙 臺(tái)式XRF光譜儀
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